XRF Spektrometria rentgenowska XRF

Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej ARL QUANT'X EDXRF z dyspersją energii pozwalający na wykonywanie analiz zgodnych z dyrektywą RoHS - WEEE

ARL QUANT'X EDXRF jest spektrometrem rentgenowskim XRF zaprojektowanym z myślą o najwyższych wymaganiach analitycznych w laboratoriach oraz przemyśle, m.in. do badań środowiskowych takich jak analiza pyłów pobieranych na filtrach, zanieczyszczenia gleb, zawartości toksycznych pierwiastków w tworzywach sztucznych, jak również w medycynie sądowej, analizie żywności i w przemyśle półprzewodników i materiałów magnetycznych.

• spektrometr XRF ARL Quant X posiada detektor Si (Li) z chłodzeniem Peltier'a z rozdzielczością <155 eV przy 5.9 KeV i 10000 cps
• spektrometr rentgenowski ARL Quant X wyróżnia unikalna, cyfrowa obróbka sygnału (DPP)
• niezrównana czułość przy analizie śladowej od Na do U (Na - U)
• spektrometr rentgenowski z dyspersją energii ARL Quant x to jedyny w świecie EDXRF przełamujący barierę 1 ng granicy wykrywalności
• spektrometr XRF ARL Quant X to najwyższa przepustowość pomiarów
• największa elastyczność w obróbce próbek
• spektrometr fluorescencji rentgenowskiej ARL Quant X posiada automatyczny, 10 i 20 pozycyjny zmieniacz próbek, umożliwiający pomiar standardowych naczyń do płynów i materiałów sypkich, oraz szereg innych uchwytów do próbek o nietypowych kształtach.
• spektrometr XRF ARL Quant X ma  możliwość powiększenia komory pomiarowej, aby w pełni wykorzystać nieniszczący charakter EDXRF w badaniu nawet największych próbek (do 37 cm wysokości)
• spektrometr rentgenowski ARL Quant X ma  możliwość badań w próżni lub możliwość przedmuchu aparatu (Ar, He, N₂) w przypadku analizy próbek ciekłych oraz lekkich pierwiastków w próbkach lotnych oraz łatwo utleniających się.
• spektrometr EDXRF ARL Quant X wyróżnia regulacja szerokości wiązki rentgenowskiej od 15 mm do 2mm, dając możliwość badania niewielkich rozmiarów próbek oraz śladów
• spektrometr XRF ARL Quant X cechuje mechaniczna prostota i niezawodność (jedna ruchoma część komorze pomiarowej)
• niewielkie rozmiary zapewniające łatwość transportu spektrometru  dla pomiarów w terenie.
• szybka i łatwa instalacja

Oprogramowanie WinTrace i Uniquant umożliwia przeprowadzenie analiz składu pierwiastkowego w trybie m. in:

• analizy jakościowej (bezwzorcowej)
  analizy półilościowej („semi"-bezwzorcowej)
• analizy ilościowej z dowolną ilością wzorców.
• badania grubości wielowarstwowych powłok i ich składu bez ograniczeń dotyczących ilości pierwiastków i wzorców

Pobierz broszurę:

ARL Quant'x EDXRF